Файл:Сканирующий туннельный микроскоп - туннелирование

Краткое содержание

ОписаниеСканирующий туннельный микроскоп - туннелирование - Плотность состояний.svg	Русский: Сканирующий туннельный микроскоп — отрицательное смещение на образце, V, повышает его электронные уровни на эВ; туннелировать могут только электроны, которые занимают состояния между уровнями Ферми образца и острия.
Дата	2 сентября 2020 г.
Источник	Собственная работа
Автор	Понор

Я, владелец авторских прав на данную работу, настоящим публикую ее на условиях следующей лицензии:

Этот файл лицензирован в соответствии с лицензией Creative Commons Attribution-Share Alike 4.0 International.

Вы свободны:

При следующих условиях:

атрибуция – Вы должны указать соответствующее авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, были ли внесены изменения. Вы можете сделать это любым разумным способом, но не таким образом, который подразумевает, что лицензиар одобряет вас или ваше использование.
распространяйте на равных условиях – если вы делаете ремиксы, преобразуете или дополняете материал, вы должны распространять свои вклады по той же или совместимой лицензии, что и оригинал.

https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0CC BY-SA 4.0Creative Commons Attribution-Share Alike 4.0истинныйистинный

Английский

Добавьте однострочное объяснение того, что представляет собой этот файл.

Краткое название	Сканирующий туннельный микроскоп — туннелирование от образца к зонду с отрицательным смещением образца
Ширина	476
Высота	301.8